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日本sena硅玻璃表面异物检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：780
日本sena玻璃表面划痕检查灯185le 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：752
日本sena晶圆表面清洁度检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：802
日本sena电子行业用检查灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：718
日本sena电子行业用卤素灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：808
日本sena表面检查用卤素灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：3052
日本mcrl透光度雾度计HM-150N 雾度计可消除光源的偏振特性，并*地减少仪器误差！
更新日期：2024-03-24 访问量：925
日本mcrl雾度计反射率计HM-150N 雾度计可消除光源的偏振特性，并*地减少仪器误差！
更新日期：2024-03-24 访问量：1051
日本bunkoukeiki单色仪M50 高分辨率单色仪，焦距为500mm，波长为200nm至25μm。
更新日期：2024-03-24 访问量：852
日本bunkoukeiki单色仪M25 紧凑、轻便、明亮、高分辨率的单色仪，焦距为 250mm。
更新日期：2024-03-24 访问量：935
日本bunkoukeiki单色仪M10 分辨率为 1.0 nm（1200 线/毫米），波长精度为 ±1.0 nm，具有同类产品中的性能。
更新日期：2024-03-24 访问量：969
ULEDN-102CT系列日本ns分体细头型UV-LED照射装置 光学测量仪
日本ns分体细头型UV-LED照射装置ULEDN-102CT系列 我们将推出紧凑且低价的UV-LED照射装置（紫外线照射装置）ULEDN-102CT。 我们拥有从易于 UV 粘合的 1 头型到用于生产线设备的 4 头型的产品阵容。
更新日期：2024-03-24 访问量：940
日本HAYASHI林时计光纤光源LA-HDF100NA 光学测量仪
日本HAYASHI林时计光纤光源LA-HDF100NA 节能、长寿命、节省空间的光纤导插入式LED光源
更新日期：2024-03-24 访问量：836
日本HAYASHI林时计光纤光源LA-HDF7010RL 光学测量仪
日本HAYASHI林时计光纤光源LA-HDF7010RL 光强约为LA-HDF250RL的5010.1倍，可与3W金属卤化物灯光源相媲美（与我公司相比）。
更新日期：2024-03-24 访问量：664
日本HAYASHI林时计光纤光源LA-HDF5010RL 光学测量仪
日本HAYASHI林时计光纤光源LA-HDF5010RL 采用业界顶级高亮度白光LED，光强约为150W卤素光源的三倍（与我公司相比） 兼容最大φ3的大装订直径光导 还提供配备
更新日期：2024-03-24 访问量：764
