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tokina图丽LED光纤光源KTL-400 光学测量仪 达到传统KTL-350照度的2.5至3倍。（与我们公司相比） ●寿命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此无需更换灯泡，大大降低了运行成本。 ●外部遥控器的ON / OFF响应速度约为10μs ●可以安装波长选择滤光片。
更新日期：2024-03-24 访问量：688
tokina图丽LED光源KTL-400 达到传统KTL-350照度的2.5至3倍。（与我们公司相比） ●寿命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此无需更换灯泡，大大降低了运行成本。 ●外部遥控器的ON / OFF响应速度约为10μs ●可以安装波长选择滤光片。
更新日期：2024-03-24 访问量：669
YP-250I电子元器件用表面检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：914
YP-250I半导体芯片检测用表面检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：1604
YP-250I液晶面板检测用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：855
YP-250I液晶屏幕检测用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：886
YP-250I半导体行业用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：914
YP-250I晶圆表面瑕疵检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：909
YP-250I高照度卤素强光灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：975
YP-150I卤素强光灯 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：2903
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：1984
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：891
日本sena玻璃晶圆目视检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：931
