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日本ARK线照明UV-LED光源LS-180 这是一种UV-LED光源，以线条形状发射高强度紫外线。 我们提供满足您需求的光源，例如线长、宽、波长和紫外线强度。
更新日期：2024-03-23 访问量：1091
LS-1-RAL3日本ARK用于半导体标线对准的UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK用于半导体标线对准的UV-LED光源LS-1-RAL3 这是一种UV-LED光源，用作标线对准的照明。 通过切换到独立的LED照明进行标线对准，可以照射具有高稳定性和长寿命的高质量光。
更新日期：2024-03-23 访问量：1119
日本ARK表面辐照通用UV-LED光源 MS20LX-365 光学测量仪
日本ARK表面辐照通用UV-LED光源 MS20LX-365 它是一种UV-LED光源，可以高强度照射Φ20~30mm区域。 UV-LED 灯头紧凑地组合了多个 LED，可有效照亮所需区域。
更新日期：2024-03-23 访问量：1027
日本ARK点照射UV-LED固化灯LS-4C 它是使用紫外光固化粘合剂粘合光学元件和非常小的部件的理想选择。 此型号专为独立使用而设计。
更新日期：2024-03-23 访问量：1093
SF-IR54-4-406日本ARK液晶面板周边曝光的UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK液晶面板周边曝光的UV-LED光源SF-IR54-4-406 这是一种用于液晶面板周边曝光的UV-LED光源。 通过将使用UV灯和光导的传统方法改为UV-LED头方法，大大有助于延长光源的使用寿命并降低维护成本。
更新日期：2024-03-23 访问量：1029
EW04S日本ARK高输出型晶圆外围曝光UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK高输出型晶圆外围曝光UV-LED光源EW04S 用于g线和i线光刻胶晶圆外围曝光的UV-LED光源。 光学设计可实现 7，000 mW/cm² 或更高的高输出。
更新日期：2024-03-23 访问量：1121
EW01S日本ARK用于晶圆外围器件曝光的UV-LED光源 光学测量仪
日本ARK用于晶圆外围器件曝光的UV-LED光源EW01S 用于g线和i线光刻胶晶圆外围曝光的UV-LED光源。
更新日期：2024-03-23 访问量：1026
日本ARK点照射通用光源AGIL-V 它是使用紫外光固化粘合剂粘合光学元件和非常小的部件的理想选择。
更新日期：2024-03-23 访问量：862
YP-150I/YP-250I日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯 光学测量仪
日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯YP-150I/YP-250I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-23 访问量：991
YP-150I/YP-250I日本yamada半导体行业用目视检查灯 光学测量仪
日本yamada半导体行业用目视检查灯YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。 因使用鹵素光源灯的光源，具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
更新日期：2024-03-23 访问量：1228
日本yamada液晶面板检查灯YP-150I/YP-250I 光学测量仪
日本yamada液晶面板检查灯YP-150I/YP-250I 是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中z費人工的成形製品表面 的異物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。
更新日期：2024-03-23 访问量：1311
日本sena高照度目视检查灯100LE 高照度照明设备(表面检查灯) 185-LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF(彩色滤光片)、触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-23 访问量：902
日本sena手机屏幕检查灯370TFI/R 光源 直流点灯 17V/185W 卤素灯 照度调整 连续可调至大照度的 20%
更新日期：2024-03-23 访问量：886
日本sena触摸屏面板检查灯185LE-AL 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-23 访问量：851
L10706日本hamamatsu UV-LED 真空紫外光源单元 光学测量仪
日本hamamatsu UV-LED 真空紫外光源单元L10706 S2D2 VUV 光源单元是一种真空紫外光源单元，集成了 MgF2 窗型紧凑型氘灯。这款光源单元配备带有真空法兰和有的制冷机制的 SUS 柔性管，可在极近距离照射物体或样品，并且可以在减压条件下安装和操作。
更新日期：2024-03-23 访问量：861
